Elaboration et caractérisation des couches minces d’oxyde de titane (TiO2) non dopé et dopées au cobalt (Co) par évaporation sous effet joule
Elaboration et caractérisation des couches minces d’oxyde de titane (TiO2) non dopé et dopées au cobalt (Co) par évaporation sous effet joule
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Date
2024
Authors
FEZZAA Manel
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
université chadli ben djedid eltarf
Abstract
Cette étude présente la préparation et la synthèse des couches minces de TiO2 non
dopées et dopées au Co, déposées sur des substrats de verre par la technique de l'évaporateur
sous vide, ainsi que l'influence du dopage au Co sur leurs propriétés structurelles,
microstructurales et morphologiques, avec des concentrations de Co de 5, 10 et 15 wt.%.
Les résultats de diffraction des rayons X (DRX) montrent que le produit non dopé
correspond à la phase amorphe. Cependant, l'ajout de 5, 10 et 15 wt.% d’impureté Co entraîne
l'apparition des pics de la phase anatase aux diffractions des plans (101) et (020),
respectivement.
L'étude en microscopie électronique à balayage (MEB) des films de TiO2, qu'ils soient
purs ou dopés, montre une distribution uniforme des grains de nature dense ainsi qu'une
couverture homogène de la surface du substrat. L’analyse par Énergie Dispersive de rayons X
(EDX) des couches minces de TiO2 dopées avec différentes teneurs en cobalt (5, 10 et 15
wt.%) montre des répartitions massiques de Co très proches des valeurs nominales.
This study presents the preparation and synthesis of undoped and Co-doped TiO2 thin
films using the vacuum evaporation technique, as well as the influence of Co doping on their
structural, microstructural, and morphological properties, with Co concentrations of 5, 10, and
15 wt.%.
The X-ray diffraction (XRD) results show that the undoped product corresponds to the
amorphous phase. However, the addition of 5, 10, and 15 wt.% of Co impurity leads to the
appearance of peaks of the anatase phase in the diffractions of the (101) and (020) planes,
respectively.
Scanning electron microscopy (SEM) study of TiO2 films, whether pure or doped,
shows a uniform distribution of dense grains and a homogeneous coverage of the substrate
surface. The Energy Dispersive X-ray (EDX) analysis of thin layers of TiO2 doped with
different cobalt contents (5, 10, and 15 wt.%) shows cobalt mass distributions very close to
the nominal values.